
فایل فلش تبلت با شماره برد a23-q8h-gc0309 کاملا سالم و تست شده
فایل فلش تبلت با شماره برد a23-q8h-gc0309 تست شده
فایل فلش تبلت با شماره برد a23-q8h-gc0309 کاملا سالم و تست شده
موضوع: پایان نامه تشخیص بن بست در سیستمهای توزیع شده
نوع فرمت:word
تعداد صفحه:96
امروزه کمتر سیستمی را می توان یافت که روی یک کامپیوتر متمرکز باشد. رشد روزافزون استفاده از سیستمهای توزیع شده، اهمیت تحقیق و پژوهش در راستای حل موانع و مشکلات موجود در این سیستمها را بیشتر آشکار می نماید. از جمله سیستمهای توزیع شده می توان به بانکهای اطلاعاتی توزیع شده، سیستم عاملهای توزیع شده، و سیستمهای کارگزار موبایل اشاره نمود.
سیستم توزیع شده از مجموعه ای از فرآیندهایی که از طریق ارسال پیام با یکدیگر در ارتباط اند،تشکیل شده است.یکی از مسائل مهم در سیستمهای توزیع شده در راستای مدیریت منابع، تشخیص بن بست توزیع شده است. مدیریت منابع زمانی که فرایندهای درخواست کننده در سطح شبکه در مکانهای مختلف توزیع شده اند،فرایند تشخیص را نسبت به سیستمهای متمرکز، دشوارتر می نماید.
طی دهه اخیر الگوریتم های زیادی برای تشخیص بن بست در سیستم های توزیع شده ارائه شده است که تعداد زیادی از آنها موفق به تشخیص بن بست نمی شوند و یا بن بست هایی را گزارش می کنند که در واقع وجود ندارند و یا اینکه اثبات شده است که نادرست اند.
هدف از این تحقیق مطالعه و بررسی روشهای مختلف تشخیص بن بست در سیستمهای توزیع شده، شناسایی مشکلات، محدودیت های آنها و ارائه راه حل عملی مبتنی بر واقعیات موجود در سیستمهای توزیع شده در خصوص مشکلات شناسایی شده است.
پروژه ی مدیا پلیر (Fuze Player) به صورت شی گرایی جهت پخش کردن فایل های صوتی و تصویری ، پروژه ای آموزشی که تحت متد ها طراحی و برنامه نویسی شده است. بسیار پروژه ای کاربردی است که دارای دکمه های اساسی Play , Pause,Back,Previuse و همچنین دارای قابلیت لیست کردن فایل های صوتی و تصویری که با listBox طراحی شده است و دارای کلی امکانات بالقوه دیگری دارد. که مناسب با پروژه های دانشجویی ساخته شده است و همچنین دارای رابط کاربری بسیار زیبا و شیک است.
*** مقاله انگلیسی با ترجمه فارسی ***
Simulated fault injection methodology for gate-level quantum circuitreliability assessment
متدولوژی درج خرابی شبیه سازی شده برای ارزیابی قابلیت اطمینان مدار کوانتوم سطح گیت
( رشته : برق و الکترونیک )
11 صفحه انگلیسی با فرمت PDF
20 صفحه ترجمه فارسی با فرمت Word 2007
چکیده:
در محاسبات کوانتوم، اهمیت تحمل پذیری خرابی بعلت قابلیت اطمینان پایین مولفه های مدار کوانتوم زیاد می باشد. بنابراین، ابزارها و متدولوژی های ارزیابی تحمل پذیری خرابی متعدد توسعه یافته اند؛ اکثر آنها براساس مدل خرای اتخاذ شده و براساس برخی فرضیه های ساده سازی، تحلیلی می باشند. شبیه سازی می توانست یک راهکار واقعی تر و دقیق تر باشد در صورتیکه با پیچیدگی بالای شبیه سازی مدارهای کوانتوم مواجه نمی شد. با این حال، پیاده سازی زبان توصیف سخت افزاری (HDL) برای درج خرابی شبیه سازی شده (SFI) برای مدارهای کوانتوم با محدودیت سایز پیشنهاد شده و مورد تست قرار گرفته است. این مقاله، یک متدولوژی مبتنی بر SFI، ترکیبی شبیه سازی – تحلیلی جدید برای ارزیابی تحمل پذیری خرابی مدار کوانتوم که برای مدارهایی با سایز اختیاری مقیاس پذیر می باشد، پیشنهاد می کنیم. هر کیوبیت منطقی از مدار کوانتوم توسط چندین کیوبیت فیزیکی رمزگذاری می شود و هر گیت منطقی می تواند به گیت های فیزیکی تفکیک شود (با اجرای روی کیوبیت های فیزیکی). ارزیابی SFI مبتنی بر HDL ناشی از سطح کیوبیت فیزیکی تحت نرخ خرابی ایجاد می شود که سپس برای فرایند ارزیابی تحلیلی اجرا شده در سطح منطقی تغذیه می شود. نتایج تحلیلی و شبیه سازی این واقعیت را ثابت می کنند که هنگام حفاظت از دقت بالای ارزیابی قابلیت اطمینان، این متدولوژی ترکیبی می تواند برای مدارهای کوانتوم بزرگتر بکار گرفته شود.
Abstract
In quantum computation the importance of fault tolerance is paramount, due to the low
reliability of the quantum circuit components. Therefore, several fault tolerance assessing
tools and methodologies have been developed; most of them are analytic, dependent on
the adopted fault model, and based on some simplifying assumptions. Simulation could
have been a more realistic and accurate alternative had it not be confronted with the high
complexity of simulating quantum circuits. However, a hardware description language
(HDL) implementation for simulated fault injection (SFI) was proposed and tested for
limited-size quantum circuits. This paper proposes a new, hybrid simulation-analytic,
SFI-based methodology for quantum circuit fault tolerance assessment that is scalable to
arbitrary size circuits. Each logical qubit from the quantum circuit is encoded by several
physical qubits, and each logical gate can be decomposed into physical gates (acting on
physical qubits). The HDL-based SFI evaluation result from the physical qubit level comes
under the form of a failure rate, which is then fed to the analytical assessment process performed
at the logical level. The analytical and simulation results prove the fact that, while
maintaining a high accuracy of reliability assessment, this hybrid methodology can be
applied to larger quantum circuits.